XT-150D克服了模擬晶體阻抗計功能單一、可靠性差，讀數(shù)不直觀的缺點，采用最新技術，自帶頻率和頻差（ppm）測量功能，等效電阻，負載電容和靜電容數(shù)字化顯示。可以設定頻差上下限，對合格品，儀器會語音告知測試者，減輕了勞動強度，提高了工作效率，是一項高品質(zhì)的智能化產(chǎn)品。 主要測試項目： 1．晶體的串聯(lián)諧振頻率FS。 2．晶體的負載諧振頻率FL。 3．晶體的串聯(lián)諧振電阻RR。 4．晶體的負載諧振電阻RL。 5．晶體的靜電容C0。 6．晶體的負載電容CL。 7．晶體的頻差ppm或KHz。 技術指標： 1．晶體頻率測量范圍：3―――６０ＭＨｚ。 2．等效電阻測量范圍：０―――２００Ω。 3．靜電容測量范圍：?。皑D――２０ＰＦ。 4．負載電容的調(diào)整范圍：１０―――４０ＰＦ。 5．激勵電平的調(diào)整范圍：１０―――５００ｕＷ。 6．晶體等效電阻的測量誤差：≤５％。 7．激勵電平誤差：　　　　　≤５０％。 8．工作溫度范圍：　?。保胆D――＋３５℃。 9．時基穩(wěn)定度（10MHz）：5×10-7 10．電源電壓：　　?。玻玻埃謅c　＋／－１０％。 11．功耗：≤１５W。