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[供應(yīng)]日照鑄件HIC檢測(cè)
- 產(chǎn)品產(chǎn)地：無(wú)錫
- 產(chǎn)品品牌：容大
- 包裝規(guī)格：CNAS、CMA
- 產(chǎn)品數(shù)量：1
- 計(jì)量單位：樣
- 產(chǎn)品單價(jià)：1
- 更新日期：2017-04-27 16:49:44
- 有效期至：2018-04-27
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日照鑄件HIC檢測(cè)
詳細(xì)信息
鑄件HIC檢測(cè)
聯(lián)系人：李先生
聯(lián)系方式：0510-82031603 18961863066（微信同號(hào)）
QQ：1211028351
容大檢測(cè)，專業(yè)從事產(chǎn)品檢測(cè)服務(wù)。主要有SSC+HIC、晶間腐蝕、鹽霧、沸騰氯化鎂等腐蝕試驗(yàn)，API622、API624等閥門檢測(cè)，超聲波、磁粉等無(wú)損探傷以及成分分析、金相分析、失效分析、力學(xué)性能等檢測(cè)服務(wù)。
氫致開裂HIC：NACETM0284-2011，GB/T8650-2015。
HIC試驗(yàn)方法是將無(wú)應(yīng)力法人試樣暴露在下面兩種溶液中的任何一種中，溶液A，常溫常壓下含飽和H2S的NaCl，CH3COOH或者溶液B，常溫常壓下，含飽和H2S的人工海水，暴露規(guī)定的時(shí)間后，取出試樣并進(jìn)行評(píng)定。
氫壓理論：與形成氫致鼓泡原因一樣，在夾雜物、晶界等處形成的氫氣團(tuán)可產(chǎn)生一個(gè)很大的內(nèi)應(yīng)力，在強(qiáng)度較高的材料內(nèi)部產(chǎn)生微裂紋，并由于氫原子在應(yīng)力梯度的驅(qū)使下，向微裂紋尖端的三向拉應(yīng)力區(qū)集中，使晶體點(diǎn)陣中的位錯(cuò)被氫原子“釘扎”、鋼的塑性降低，當(dāng)內(nèi)壓所致的拉應(yīng)力和裂紋尖端的氫濃度達(dá)到某一臨界值時(shí)，微裂紋擴(kuò)展，擴(kuò)展后的裂紋尖端某處氫再次聚集、裂紋再擴(kuò)展，這樣最終導(dǎo)致破斷。
以上內(nèi)容只是對(duì)該實(shí)驗(yàn)進(jìn)行一個(gè)簡(jiǎn)單的介紹，想要詳細(xì)了解該實(shí)驗(yàn)的，可撥打聯(lián)系電話或通過(guò)QQ/微信的方式進(jìn)行咨詢！
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