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納優(yōu)科技(北京)有限公司

主營:X射線熒光光譜儀,XRF,ROHS及鹵素測試一體機
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[供應]供應光譜儀,熒光光譜儀,X熒光光譜儀
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  • 產(chǎn)品產(chǎn)地:江西
  • 產(chǎn)品品牌:納優(yōu)科技
  • 包裝規(guī)格:
  • 產(chǎn)品數(shù)量:
  • 計量單位:
  • 產(chǎn)品單價:
  • 更新日期:2014-02-10 09:52:54
  • 有效期至:2024-02-08
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供應光譜儀,熒光光譜儀,X熒光光譜儀 詳細信息

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一.能譜儀基本介紹 
X 射線熒光分析技術( XRF ,又稱 X 射線熒光光譜儀)作為一種快速分析手段, 為我國的相關生產(chǎn)企業(yè)提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的,檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑;相對于其他分析方法(例如:發(fā)射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等), XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢,特別適合用于各類相關生產(chǎn)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。 
X 射線熒光分析技術可以分為兩大類型:能量色散 X 射線熒光分析( EDXRF ,以下我們簡稱能量色散)和波長色散 X 射線熒光分析(WDXRF,以下我們簡稱波長色散);而能量色散型又根據(jù)探測器的類型分為( Si-PIN )型和 SDD 型。在不同的應用條件下,這幾種類型的技術各有其突出的特點;以下將針對歐盟 ROHS & WEEE 指令的具體應用情況,對能量色散和波長色散進行比較和說明: 
儀器 類型 波長色散 能量色散 
性能 指標 ( Si-PIN )型 (SDD )型 
測量精度 20--50ppm   200--300ppm    100--200ppm 
測量時間 
1--2分鐘 
4--6 分鐘 
3--5 分鐘 
被測樣品要求 
規(guī)則形狀 需要制樣 
可以不規(guī)則形狀 
可以不規(guī)則形狀 
被測元素類型 
輕元素 
重元素 
重元素 
最佳應用范圍 
原料,半成品 
成品,電子元器件 
原料、半成品,成品,電子元器件 
能量分辨率 
高,約 15eV 
較低,約 160eV 
較低,約 160eV 
熒光強度 
高 
低 
較高 
技術復雜程度 
復雜 
簡單 
較復雜 
使用壽命 
> 10 年 
> 5 年 
儀器造價 
高 
較低 
高 
1 、測量精度: 盡管目前各家能量色散儀器(均為 Si-PIN 類型)生產(chǎn)商和銷售商都給出了很高的技術指標,但在實際應用中(特別在被測樣品不進行處理的情況下),真正可以期待的準確度都在 200~300ppm 之間(測量塑料中有害元素時,準確度會好一些;對不規(guī)則樣品,則精度會更差);同時,對于同類型的儀器,進口儀器的指標和國產(chǎn)儀器之間并沒有本質差別(基本配置),但進口儀器的價格卻昂貴很多。波長色散測量準確度比能量色散類型要高一個數(shù)量級,基本在 20~50ppm 左右。 
  2 、測量時間: 由于波長色散配備較大功率的 X 光管,熒光強度高;因此,波長色散儀器占用較短的測量時間,便能達到較高的測量精度。 
  3 、被測量樣品的要求: 由于技術特點的差異,波長色散需要對被測量樣品進行簡單的處理;對固體樣品的一般處理方法是將被測量樣品表面打磨光滑,對粉末和其他樣品可以采用磨細后進行粉末壓片法處理,相應的設備市場上很容易找到。能量色散型儀器最大的優(yōu)勢在于:可以對樣品不作特別復雜的處理而直接進行測量,對樣品也沒有任何損壞,適合直接用于生產(chǎn)的過程控制中;但需要強調指出的是:從熒光理論上講,被測量樣品的預先處理是必須的,對于能量色散儀器來說,我們可以采取一些技術手段進行校正來滿足實際生產(chǎn)控制的需要,但即使采用了技術校正的手段,對不規(guī)則樣品的直接測量也是以犧牲測量準確度作為代價的。 
  4 、最佳應用范圍: 由于波長色散和能量色散類型各自的技術特點,兩種類型儀器所側重的應用方案也不盡相同;波長色散具有較高的測量精度,但同時需要對被測量樣品進行簡單處理,更適用于進廠原材料、半成品、成品的精確檢測和質量控制;能量色散雖然測量精度稍差,但具有快速、直接測量各種形狀樣品的優(yōu)點,因此可直接在生產(chǎn)線上用于各種部件、電子元器件的檢測。 
  5 、能量分辨率: 能量分辨率是儀器的主要指標,分辨率數(shù)值越小,分辨率越高,儀器性能越好。 
  6 、熒光強度: 對于儀器來說,各元素含量與該元素的熒光強度成正比關系;熒光強度越高,則統(tǒng)計誤差越小,測量的準確度越高,儀器性能越好。 
7 、

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